數(shù)字X射線數(shù)字成像系統(tǒng)其檢測(cè)結(jié)果容易解釋和直觀。由于傳統(tǒng)的方法使用膠片技術(shù)，使得該項(xiàng)檢驗(yàn)的成本高、費(fèi)時(shí)長、工作環(huán)境差及環(huán)境污染嚴(yán)重。目前隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展和成像板技術(shù)的進(jìn)步，數(shù)字X射線數(shù)字成像系統(tǒng)已在無損檢測(cè)中得到了廣泛應(yīng)用，數(shù)字化的X射線技術(shù)替代膠片技術(shù)將成為不可逆轉(zhuǎn)的趨勢(shì)，就像人們拋棄膠片相機(jī)一樣，膠片技術(shù)將退出歷史的舞臺(tái)。人們也將告別潮濕、昏暗、刺鼻的工作環(huán)境，在明亮的工作環(huán)境下，愉快的閱讀X射線圖像。

目前國內(nèi)市場(chǎng)在有非晶硅、非晶錫和CMOS三種成像系統(tǒng)，前面兩種板的精度為127μm，CMOS板的精度為20-80μm。非晶硅和非晶錫板主要應(yīng)用非焊縫的檢驗(yàn)，如車站、機(jī)場(chǎng)的安檢系統(tǒng)、輪胎輪轂檢驗(yàn)系統(tǒng)。下面將介紹*的CMOS、非晶硅、CR、工業(yè)CT及斷層掃描系統(tǒng)。